Sélectionner un fichier Excel (.xls, .xlsx) ou CSV (.txt; .csv; .tab) :
Réinitialiser la liste de commande avant importation :
La première ligne contient des entêtes. Les ignorer :
Numéro de la colonne avec la référence produit :
Numéro de la colonne avec la quantité :
Caractère séparateur de champ (pour les fichiers .csv) :

Série 378 - Unité de microscope pour inspection de semi-conducteurs

  • Opération facilitée avec la tourelle rotative dirigée vers l'intérieur et associé à des objectifs longue distance de travail.
  • Microscope idéal pour les semi-conducteurs.
  • Les modèles FS L et L4 compatibles laser YAG ont une longueur d'onde de 266 jusqu'à 1064 nm et permettent la découpe laser de films fins ou de substrats de cristaux liquides.
  • Design ergonomique avec molette de réglage fin de chaque côté de l'appareil pour une mise au point facile.
1 - 5 (16)Résultats par page:
378-185_z.eps
FS70
Prix ​​sur demande
378-185_z.eps
FS70S
Prix ​​sur demande
378-185_z.eps
FS70TH
Prix ​​sur demande
378-185_z.eps
FS70THS
Prix ​​sur demande
378-185_z.eps
FS70Z
Prix ​​sur demande
1 - 5 (16)