|
|
|
LSM-500S
Hoognauwkeurig contactloos meetsysteem
- Metingen mogelijk vanaf ø 5 μm.
- Levert een ultra-hoge nauwkeurigheid met een lineariteit van ±0,3 μm over het gehele meetbereik (5 μm t/m 2 mm)..
- Ultra-hoge reproduceerbaarheid van ±0,03 μm.
- Hoge scansnelheid van 3200 scans/s
|
|
|
|
|
LSM-501S
Hoognauwkeurig contactloos meetsysteem
- Levert een ultra-hoge nauwkeurigheid met een lineariteit van ±0,5 μm over het gehele meetbereik (0,05 mm tot 10 mm) en ±(0,3+0,1ΔD) μm in beperkt bereik.
- Ultra-hoge reproduceerbaarheid van ±0,04 μm.
- Hoge scansnelheid van 3200 scans/s
|
|
|
|
|
LSM-503S
Hoognauwkeurig contactloos meetsysteem
- Universeel model met een meetbereik van 0,3 mm tot 30 mm.
- Levert hoge nauwkeurigheid met een lineariteit van ±1,0 μm over het gehele meetbereik en ± (0,6+0,1ΔD) μm in beperkt bereik.
- Uitstekende reproduceerbaarheid van ±0,1 μm.
- Hoge scansnelheid van 3200 scans/s
|
|
|
|
|
LSM-506S
Hoognauwkeurig contactloos meetsysteem
- Universeel model met een meetbereik van 1 mm tot 60 mm.
- Levert hoge nauwkeurigheid met een lineariteit van ±3,0 μm over het gehele meetbereik en ± (1,5+0,5ΔD) μm in beperkt bereik.
- Uitstekende reproduceerbaarheid van ±0,36 μm.
- Hoge scansnelheid van 3200 scans/s.
|
|
|
|
|
LSM-512S
Hoognauwkeurig contactloos meetsysteem
- Universeel model met een meetbereik van 1 mm tot 120 mm.
- Levert hoge nauwkeurigheid met een lineariteit van ±6,0 μm over het gehele meetbereik en ± (4,0+0,5ΔD) μm in beperkt bereik.
- Uitstekende reproduceerbaarheid van ±0,8 μm.
- Hoge scansnelheid van 3200 scans/s.
|
|
|
|
|
LSM-516S
Hoognauwkeurig contactloos meetsysteem
- Universeel model met een groot meetbereik van 1 mm tot 160 mm.
- Levert hoge nauwkeurigheid met een lineariteit van ±7,0 μm over het gehele meetbereik en ± (4,0+2,ΔD) μm in beperkt bereik.
- Uitstekende reproduceerbaarheid van ±1,4 μm.
- Hoge scansnelheid van 3200 scans/s.
|
|
