Kies a.u.b. een Excel-bestand (.xls; .xlsx) of CSV-bestand (.txt; .csv; .tab):
Winkelmand voor de import terugzetten:
De eerste regel bevat titels, negeer deze:
Nummer van de kolom met artikelnummer:
Nummer van de kolom met hoeveelheid:
Scheidingsteken (belangrijk voor *.csv-bestanden):

Laser Scan Micrometer meet-unit

544-532_z1.eps

LSM-500S

Hoognauwkeurig contactloos meetsysteem

  • Metingen mogelijk vanaf ø 5 μm.
  • Levert een ultra-hoge nauwkeurigheid met een lineariteit van ±0,3 μm over het gehele meetbereik (5 μm t/m 2 mm)..
  • Ultra-hoge reproduceerbaarheid van ±0,03 μm.
  • Hoge scansnelheid van 3200 scans/s
544-534_z.eps

LSM-501S

Hoognauwkeurig contactloos meetsysteem


  • Levert een ultra-hoge nauwkeurigheid met een lineariteit van ±0,5 μm over het gehele meetbereik (0,05 mm tot 10 mm) en ±(0,3+0,1ΔD) μm in beperkt bereik.
  • Ultra-hoge reproduceerbaarheid van ±0,04 μm.
  • Hoge scansnelheid van 3200 scans/s

 

544-536_z.eps

LSM-503S

Hoognauwkeurig contactloos meetsysteem

  • Universeel model met een meetbereik van 0,3 mm  tot 30 mm.
  • Levert hoge nauwkeurigheid met een lineariteit van ±1,0 μm over het gehele meetbereik en ± (0,6+0,1ΔD) μm in beperkt bereik.
  • Uitstekende reproduceerbaarheid van ±0,1 μm.
  • Hoge scansnelheid van 3200 scans/s
544-538_z.eps

LSM-506S

Hoognauwkeurig contactloos meetsysteem

  • Universeel model met een meetbereik van 1 mm  tot 60 mm.
  • Levert hoge nauwkeurigheid met een lineariteit van ±3,0 μm over het gehele meetbereik en ± (1,5+0,5ΔD) μm in beperkt bereik.
  • Uitstekende reproduceerbaarheid van ±0,36 μm.
  • Hoge scansnelheid van 3200 scans/s.
544-540_z.eps

LSM-512S

Hoognauwkeurig contactloos meetsysteem

  • Universeel model met een meetbereik van 1 mm  tot 120 mm.
  • Levert hoge nauwkeurigheid met een lineariteit van ±6,0 μm over het gehele meetbereik en ± (4,0+0,5ΔD) μm in beperkt bereik.
  • Uitstekende reproduceerbaarheid van ±0,8 μm.
  • Hoge scansnelheid van 3200 scans/s.
544-542_z.eps

LSM-516S

Hoognauwkeurig contactloos meetsysteem

  • Universeel model met een groot meetbereik van 1 mm  tot 160 mm.
  • Levert hoge nauwkeurigheid met een lineariteit van ±7,0 μm over het gehele meetbereik en ± (4,0+2,ΔD) μm in beperkt bereik.
  • Uitstekende reproduceerbaarheid van ±1,4 μm.
  • Hoge scansnelheid van 3200 scans/s.